Análisis de Microestructura utilizando Difracción de Rayos-X


El Laboratorio de Cristalografía y la Mención Estudio de Materiales del Postgrado Interdisciplinario en Química Aplicada (PIQA) invitan muy cordialmente al Mini-Curso "Análisis de Micro-estructura utilizando Difracción de Rayos-X" dictado por los Profesores Matteo Leoni (Università degli Studi di Trento, Trento, Italia) y Miguel Delgado (Lab. de Cristalografía, ULA). El programa del Mini-curso es el siguiente:

Sesión I:
 Martes 27 de Marzo de 2012, 9:00 - 10:30 y 11:00 - 12:00 am
"Fundamentos de Simetría, Difracción y Uso del Bancos de Datos de
Difracción de Polvo PDF-4. "
Salón A-9

Sesión II:
 Miércoles 28 de Marzo de 2012, 9:00 - 10:30 y 11:00 - 12:00 am
"Microstructure analysis using X-ray diffraction".
Salón A-9

Resumen:
 Microstructure deeply influences the properties and thus the functionality of a material. In an X-ray diffraction pattern, the microstructure information is usually extracted from the breadth and shape of line profiles. The Whole Powder Pattern Method will be introduced, aiming at extracting microstructure and structure/microstructure information from traditional, layered and modular structures presenting some local or global reduction of the lattice symmetry due to the presence of defects. Basics and examples of both methods will be shown and commented.

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