Curso Internacional sobre Caracterización de Materiales Policristalinos mediante Técnicas de Difracción de Rayos X

Curso Internacional sobre “Caracterización de Materiales Policristalinos mediante Técnicas de Difracción de Rayos X”, en la ULA, entre el 23 y el 27 de Junio de 2014.

En el marco de la programación que se realiza a nivel mundial, por la celebración del Año Internacional de la Cristalografía decretada por la UNESCO para este año 2014, el Comité Reorganizador de la Sociedad Venezolana de Cristalografía está organizando una serie de eventos (cursos, talleres, exhibiciones, etc.) para celebrar dicho acontecimiento en Venezuela.

Coincidiendo con la celebración de los 45 años del Laboratorio de Cristalografía de la Facultad de Ciencias de la ULA, desde Mérida se ha acordado organizar un curso sobre “Caracterización de Materiales Policristalinos mediante Técnicas de Difracción de Rayos X”. A esta iniciativa se ha sumado el Comité de Cristalografía de Colombia, por lo que el curso será una actividad conjunta Colombo-Venezolana. Igualmente se planifica un curso sobre Difracción de Rayos X de Cristal Único que se realizará durante el segundo semestre del año en Bucaramanga (Colombia). Estos cursos están dirigidos tanto a estudiantes de pre- y post-grado y jóvenes investigadores del sector académico, como a profesionales del sector industrial que utilizan la difracción de rayos X como técnica de caracterización. Ambos cursos están abiertos a estudiantes, jóvenes investigadores y profesionales de otros países latinoamericanos.

El curso “Caracterización de Materiales Policristalinos mediante Técnicas de Difracción de Rayos X” se dictará en Mérida del 23 al 27 de Junio de 2014, en las instalaciones de la Facultad de Ciencias en La Hechicera.

Esta actividad se centrará en tres aspectos fundamentales: (a) El uso de las técnicas de difracción de rayos X en muestras policristalinas para el análisis cualitativo y cuantitativo de materiales, (b) El uso del programa GSAS-II (Determinación y Refinamiento estructural -Método de Rietveld-), (c) Caracterización de la Microestructura (uso del programa PM2K2).

Los Instructores son: el Prof. James A. Kaduk (Illinois Institute of Technology, EUA), el Prof. José Antonio Henao (UIS, COLOMBIA), el Dr. Robert Von Dreele (Argonne National Laboratory, EUA) y el Prof. Matteo Leoni (Università degli Studi di Trento, ITALIA). También participarán como Instructores los integrantes del Laboratorio de Cristalografía de la ULA: Miguel Delgado, Asiloé Mora, Graciela Díaz de Delgado, Belkis Ramírez, Gerzon Delgado y Jines Contreras, y el Dr. Alexander Briceño del IVIC.

Pronto estará disponible el tríptico del curso.

Para mayor información le puede escribir a:

 Prof. Miguel Delgado 

Universidad de Los Andes,
Mérida, Venezuela
correo-emigueld@ula.ve 

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